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  • 非接觸式薄層電阻測試儀
    非接觸式薄層電阻測試儀
    非接觸式薄層電阻測試儀:昊量光電新推出用于導電薄膜和薄金屬層方塊電阻測量的非接觸式方阻測量儀EddyCus TF Series,這款非接觸式方塊電阻測量儀可以非接觸式實時測量,對導電薄膜和金屬方塊電阻精確測量,表征已被隱藏和封裝的導電層,并把測量數(shù)據(jù)保存和導出。
    型號:    廠商性質(zhì):代理商
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  • 聚焦光束分析儀 - CinSpot AUT-1204系列
    聚焦光束分析儀 - CinSpot AUT-1204系列
    聚焦光束分析儀 - CinSpot AUT-1204系列:聚焦光束分析儀 CinSpot 系列產(chǎn)品來自德國激光光束分析儀生產(chǎn)廠家 Cinogy 公司,主要是針對聚焦后的激光光束的測量和分析的測量設備,覆蓋 UV~NIR 波段,可測量的焦點光斑尺寸為Min. 3um。主要用于測量焦點光斑尺寸、焦點位置、M^2、瑞利長度、激光功率等等。
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  • 光纖法布里-珀luo干涉儀
    光纖法布里-珀luo干涉儀
    光纖法布里-珀luo干涉儀系列產(chǎn)品基于具有平滑、均勻間隔傳輸峰的固定干涉儀設計。FFP 的設計簡潔優(yōu)雅的關(guān)鍵在于其無透鏡全光纖結(jié)構(gòu)。沒有準直光學器件或透鏡,消除了其他法布里-珀羅元件技術(shù)的缺陷,包括未對準、環(huán)境敏感性和外來模式。FFP 波器遵循 Airy 函數(shù)。工程師可以將其設計到 OEM 系統(tǒng)中,因為他們知道它將提供非常接近理論數(shù)學模型的結(jié)果。
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  • 800nm二極管泵浦鈦寶石飛秒激光器
    800nm二極管泵浦鈦寶石飛秒激光器
    800nm二極管泵浦鈦寶石飛秒激光器:鈦寶石激光介質(zhì)由于其具有極寬增益譜與發(fā)射譜的特性,在超短脈沖產(chǎn)生和波長調(diào)諧等方面具有極大的優(yōu)勢。長期以來鈦寶石激光器使用價格昂貴的 532 nm 全固態(tài)激光器作為泵浦源,在一定程度上限制了其推廣和應用。高亮度、高功率藍-綠光激光二極管的問世,為低成本鈦寶石振蕩器的實現(xiàn)提供了新的可能。LD 具有結(jié)構(gòu)緊湊、穩(wěn)定性高、價格低廉等優(yōu)勢。
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  • 600-1600nm單波長DFB激光器
    600-1600nm單波長DFB激光器
    Laser-1200是一系列在廣泛的波長和功率范圍可高度定制的600-1600nm單波長DFB激光器,波長和功率可選,波長可選范圍600-1600nm, zui大輸出功率15dBm。
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  • 850nm激光器
    850nm激光器
    1102是是一款連續(xù)波(CW)激光器, 提供高功率850nm激光器、 多模光纖耦合輸出,可提供長期穩(wěn)定輸出功率運行
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  • C、L波段可調(diào)諧激光器1527.605-1611.787nm
    C、L波段可調(diào)諧激光器1527.605-1611.787nm
    Laser-1000是一款連續(xù)波、單頻、C、L波段可調(diào)諧激激光器,可調(diào)范圍覆蓋整個C、L波段,功率可達16.5dbm,線寬可達100 kHz,調(diào)諧分辨率0.01 pm,C、L波段可調(diào)諧激光器是一款用途廣泛、成本效益高的通用儀器。C、L波段可調(diào)諧激光器1527.605-1611.787nm
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  • CinCam Pico系列超小尺寸光束分析儀
    CinCam Pico系列超小尺寸光束分析儀
    超小尺寸光束分析儀-CinCam Pico系列由于其高的分辨率和小的像素尺寸,CinCam確保了在對連續(xù)和脈沖激光光束測量分析時的高準確度。其即插即用的設計保證了設備的易兼容性和操作的簡易型。此外Cincam光束分析儀通用的C/F-Mount接口設計,使外加衰減片、擴束鏡、紫外轉(zhuǎn)換裝置、紅外轉(zhuǎn)換裝置更為方便。
    型號:CinCam Pico系列    廠商性質(zhì):代理商
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  • 手持式膜厚測量儀
    手持式膜厚測量儀
    手持式膜厚測量儀-MProbe 20 HC(彎曲表面)基于MProbe 20 平臺可以輕松測量曲面和大型零件的薄膜厚度,MProbe 20 具有專為單層和雙層應用優(yōu)化的數(shù)據(jù)分析算法。
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  • MPROBE 70在線薄膜厚度實時測量儀系統(tǒng)
    MPROBE 70在線薄膜厚度實時測量儀系統(tǒng)
    在線薄膜厚度實時測量儀系統(tǒng)-MPROBE 70是一種高性能厚度測量系統(tǒng)。在線薄膜厚度實時測量儀-MPROBE 70基于光譜反射率和/或透射率測量,專為產(chǎn)線的連續(xù)測量而設計
    型號:MPROBE 70    廠商性質(zhì):代理商
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  • MPROBE 60薄膜厚度均勻度在線測量系統(tǒng)
    MPROBE 60薄膜厚度均勻度在線測量系統(tǒng)
    薄膜厚度均勻度在線測量系統(tǒng)-MPROBE 60,MProbe 60 是一站式系統(tǒng),專為研發(fā)中心和小型制造而設計。它結(jié)合了測量厚度/n&k 與自動化小點測量的能力。MProbe 60 已應用于研發(fā)納米技術(shù)中心。
    型號:MPROBE 60    廠商性質(zhì):代理商
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  • MPROBE 50 INSITU原位薄膜厚度測量儀
    MPROBE 50 INSITU原位薄膜厚度測量儀
    原位薄膜厚度測量儀-MPROBE 50 INSITU-昊量用于測量薄膜厚度和 n&k(光學常數(shù))的實時光學測量儀。該系統(tǒng)可以在高環(huán)境光下工作,因為它使用門控數(shù)據(jù)采集。
    型號:MPROBE 50 INSITU    廠商性質(zhì):代理商
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